通用质量指南
全员参与
- 我们专注于研发、生产和推广高品质的集成电路产品，以满足客户的个性化需求。- 我们的专业质量团队涵盖了各业务部门的客户质量专员，他们与我们的客户形成紧密的合作关系，通过协调各方工作和与销售、制造团队的沟通，迅速应对各种质量问题。
- 客户质量专员还承担起产品控制、整改措施和质量提升计划的交流工作。
不断创新
- 密勒半导体(MILLERSEMI)获得了国际标准化组织(ISO)的质量管理体系(ISO 9001)并一直持续遵循ISO的标准要求。- 这些指导原则会定期更新，并覆盖我们处理材料、制造工艺、测试、控制、加工、存储、运输以及向客户提供密勒半导体产品的全过程。
环境信息
各工序与原材料监管
品质设置IQC、IPQC、OQC、QA等几大岗位，严格按照厂内质量管理体系文件执行品质检测工作。依靠高精度检测设备，减少生产品质异常,严格按照质量体系的要求运作，保障产品与服务质量。
环保理念
考虑到产品安全性，确保提供给客户的产品能够符合国际、国内法律法规及客户对有害物质管理的要求,制定有害物质管理办法，确保提供的产品符合无卤， 欧盟RoHS（EURoHS）、REACH高度关注物质有害物质要求。
质量管理体系
- 已通过 ISO9001：2015质量体系认证
- 已通过 SGS 半导体检测认证
- 已通过 多项国家知识产权局颁发的技术专利证书
稳定专业生产力
密勒半导体科技(MILLERSEMI)拥有出众的静动态测试系统和高质量的可靠性验证能力
施加的应力增强或加速潜在的故障机制,并帮助我们采取措施防止故障模式,以实现对器件各项重要性能参数的全方位综合验证
测试设备包括:
芯片可靠性相关设备（HTRB/HTGB)
封装可靠性相关设备（H3TRB/TC/IOL/AC/HTC)
静动态测试系统相关设备(双脉冲测试系统/安捷伦/开尔文测控/曲线测试仪/浪涌测试系统)等。
施加的应力增强或加速潜在的故障机制,并帮助我们采取措施防止故障模式,以实现对器件各项重要性能参数的全方位综合验证
测试设备包括:
芯片可靠性相关设备（HTRB/HTGB)
封装可靠性相关设备（H3TRB/TC/IOL/AC/HTC)
静动态测试系统相关设备(双脉冲测试系统/安捷伦/开尔文测控/曲线测试仪/浪涌测试系统)等。
可靠性测试
我们一直致力于向客户提供高性能，高可靠性的产品，产品满足以下可靠性要求
| 类别 | 测试项目 | 测试条件 | 测试时间 | 样品数 | 判定 | 参考标准 |
| Life Stress Test | HTGB | Ta=150℃，100%VgsMax | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
| HTRB | Ta=150℃，80%VdsMax | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| Environment Stress Test | Precondition | 30℃/60%RH+3 cycle reflow@260℃ (MSL3) | 192hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A113 |
| HTST | Ta=150℃ | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TCT | -65~150℃ | 500Cycle | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| UHAST | 130℃/85%RH/33.3psia | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A118 | |
| PCT | 121℃/100%RH/29.7psia | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| THT | 85℃/85%RH | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| H3TRB | 85℃，85%RH，80% VDS, up to 100V | 168/500/1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| IOL | △Tj>100℃ | Package dependent | 77Pcs | 0/1 | MIL-STD-750 Method 1037 |
